隨著電子電器產(chǎn)品的不時開展，其種類也越來越冗雜越來越片面，而我國關(guān)于電子電器檢測規(guī)范方面規(guī)則的也是比擬細致的。如何來正確地選擇我們自身電器電器產(chǎn)品的檢測項目不走彎路呢？明天，健明迪檢測就來給大家引見一下電子電器產(chǎn)品都有哪些檢測項目。

電子電器產(chǎn)品檢測周期：

5~10個任務(wù)日

檢測項目：

電磁兼容檢測、環(huán)境與牢靠性檢測、安規(guī)測試、資料鑒定及照明工程驗收、通訊產(chǎn)品FR測試、電子資料檢測、有毒有害物質(zhì)測試等。

檢測規(guī)范：

GB/T GB IEC EN AS/NZS UL ISO等等。

電子電器產(chǎn)品檢測的產(chǎn)品范圍：

3C數(shù)碼檢測

專業(yè)的檢測剖析處置方案，圍繞3C數(shù)碼的牢靠性檢測等項目提供專業(yè)威望的檢測報告。

手機設(shè)備檢測

專業(yè)的檢測效勞，精準的功用目的檢測數(shù)據(jù)，為您提供牢靠的的檢測報告。

無線設(shè)備檢測

依據(jù)檢測規(guī)范，提供威望第三方檢測報告，幫您分擔風險，辨明無線設(shè)備目的，完成質(zhì)量審核。

醫(yī)療設(shè)備檢測

提供專業(yè)的檢測效勞，針對醫(yī)療設(shè)備提供安規(guī)測試、電子資料檢測等效勞。

車用電子檢測

提供專業(yè)的檢測效勞，圍繞電磁兼容檢測、安規(guī)測試、電子資料檢測等效勞。

新動力檢測

提供檢測剖析效勞，檢測技術(shù)專業(yè)、數(shù)據(jù)準確，并且可以提供CMA報告。

電子電器產(chǎn)品檢測的詳細項目：

電磁兼容檢測：輻射騷擾、傳導騷擾、靜電放電、諧波電流、振鈴波抗擾度、電壓變化、電壓動搖、靜電放電抗擾度、磁感應(yīng)電流輻射、射頻電磁場輻射抗擾度、電快速瞬變脈沖群抗擾度、浪涌(沖擊)抗擾度、射頻場感應(yīng)的傳導騷擾抗擾度、電壓暫降、短時中綴和電壓變化的抗擾度、工頻磁場抗擾度。

牢靠性實驗：高溫實驗、高溫實驗、溫度沖擊、恒定干冷實驗、交變干冷實驗、沖擊實驗、碰撞實驗、自在跌落實驗、振動實驗，鹽霧實驗。

光、電、熱功用及接口測試：溫升實驗及熱散布等。

安規(guī)測試：電氣參數(shù)、介電強度、絕緣電阻、泄露電流、防觸電結(jié)構(gòu)反省、接地規(guī)則和導通電阻、爬電距離與電氣間隙、球壓實驗、溫升實驗。

資料鑒定及照明工程驗收：LED燈具光源的封裝、芯片、電源及控制器鑒定。室內(nèi)外照明亮度、照度測試及模擬；修建物室內(nèi)照度、采光測試及剖析評價。

電子電器產(chǎn)品檢測的詳細規(guī)范：

GB/T 6113.101-2016無線電騷擾和抗擾度測量設(shè)備和測量方法

GB_9254-2016信息技術(shù)設(shè)備的無線電騷擾限值和測量方法

GB 2423.25-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境實驗

GB/T 21563-2008

軌道交通機車車輛設(shè)備沖擊和振動實驗

GB/T 31467.3-2015電動汽車用鋰離子動力蓄電池包和系統(tǒng)

好了，以上就是明天健明迪檢測關(guān)于電子電器產(chǎn)品檢測相關(guān)內(nèi)容的引見了。

相關(guān)閱讀：電子檢測|電器檢測|電磁兼容檢測|電子資料檢測-青島健明迪檢測

1、功率要素和效率測試

2、平均效率測試

3、輸入電流測試

4、浪涌電流測試

5、電壓調(diào)整率測試

6、負載調(diào)整率測試

7、輸入緩慢變化測試

8、紋涉及噪聲測試

9、上升時間測試

10、下降時間測試

11、開機延遲時間測試

12、關(guān)機維持時間測試

13、輸入過沖幅度測試

14、輸入暫態(tài)照應(yīng)測試

15、過流維護測試

16、短路維護測試

17、過壓維護測試

18、重輕載變化測試

19、輸入電壓變化測試

20、電源開關(guān)循環(huán)測試

21、元件溫升測試/

22、高溫操作測試

23、高溫高濕貯存測試

24、高溫操作測試

25、高溫貯存測試

26、高溫啟動測試

27、溫度循環(huán)測試

28、冷熱沖擊測試

29、絕緣耐壓測試

30、跌落測試

31、絕緣阻抗測試

32、額外電壓輸入電流測試

1、功率要素和效率測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 的功率要素POWER FACTOR, 效率EFFICIENCY(規(guī)格依客戶要求設(shè)計).

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). DIGITAL VOLTAGE METER (DVM) / 數(shù)字式電壓表;

(4). AC POWER METER / 功率表;

三. 測試條件:

四、測試方法:

(1). 依規(guī)格設(shè)定測試條件: 輸入電壓, 頻率和輸入負載.

(2). 從POWER METER 讀取Pin and PF 值, 并讀取輸入電壓, 計算Pout.

(3). 功率要素=PIN / (Vin*Iin), 效率=Pout / Pin*100%；

五. 測試回路圖:

2.能效測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 能效值能否滿足相應(yīng)的各國能效等級規(guī)范要求(規(guī)格依各國規(guī)范要求定義).

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

三. 測試條件:

(1). 輸入電壓條件為115Vac/60Hz和230Vac/50Hz與220Vac/50Hz/60Hz條件.

(2). 輸入負載條件為空載、1/4 max. load、2/4 max. load、3/4 max. load、max. load五種負載條件.

四、測試方法:

(1).在測試前將產(chǎn)品在在其標稱輸入負載條件下預熱30分鐘.

(2). 按負載由大到小順序區(qū)分記載115Vac/60Hz與230Vac/50Hz輸入時的輸入功率(Pin),輸入電流(Iin),輸入電壓(Vo), 功率要素(PF)，然后計算各條件負載的效率.

(3). 在空載時僅需記載輸入功率(Pin)與輸入電流(Iin).

(4).計算115Vac/60Hz與230Vac/50Hz時的四種負載的平均效率,該值為能效的效率值

五、規(guī)范定義:

CEC / 美國EPA / 澳大利亞及新西蘭的能效規(guī)格值規(guī)范(IV等級)；

(1). IV等級效率的規(guī)格是: 1).Po<1W, Average Eff.≥0.5*Po;

2).1≤Po≤51W,Average Eff.≥0.09*Ln(Po)+0.5; 3).Po>51,Average Eff.≥0.85.

(2). 輸入空載功率的規(guī)格是:1).0

(3). Po為銘牌標示的額外輸入電壓與額外輸入電流的乘積;

(4) .實踐測試的平均效率值和輸入空載功率值需同時滿足規(guī)格要求才可契合規(guī)范要求.

六、計算方法舉例：

(1).12V/1A的能效效率=(0.09*ln12+0.5 )*100%= (0.09*2.4849+0.5)*100%=72.36%;

(2). 輸入功率≤ 0.5W;

3. 輸入電流測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 之輸入電流有效值INPUT CURRENT(規(guī)格依客戶要求設(shè)計).

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

三. 測試條件:

四、測試方法:

(1). 依規(guī)格設(shè)定測試條件: 輸入電壓, 頻率和輸入負載;

(2). 從功率計中記載AC INPUT 電流值;

4.浪涌電流測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 輸入浪涌電流INRUSH CURRENT, 能否契合SPEC.要求.

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

三. 測試條件:

(1).依SPEC. 所要求(通常定義輸入電壓為100-240Vac/50-60Hz).

四、測試方法:

(1). 依SPEC. 要求設(shè)定好輸入電壓, 頻率, 將待測品輸入負載設(shè)定在MAX. LOAD.

(2). SCOPE CH2 接CURRENT PROBE, 用以量測INRUSH CURRENT, CH1設(shè)定在DC Mode, VOLTS/DIV 設(shè)定視狀況而定, CH1

作為SCOPE 之TRIGGER SOURCE, TRIGGER SLOPE 設(shè)定為"+", TIME/DIV 以5mS 為較佳, TRIGGER MODE 設(shè)定為"NORMAL".

(3). CH1 則接到AC 輸入電壓.

(4). 以上設(shè)定完成后POWER ON, 找出TRIGGER 舉措電流值(AT 90o 或270o POWER ON).

五、留意事項:

(1). 冷開機(COLD-START): 需在低(常)溫環(huán)境下且BULK Cap.電荷須放盡, 以及熱敏電阻亦處于常溫下, 然后僅能*次開機,

若需第二次開機須再待電荷放盡才可再開機測試.

(2). OSCILLOSCOPE 需運用隔離變壓器.

六、測試回路圖:

5. 電壓調(diào)整率測試

一、目的:

測試S.M.P.S. OUTPUT LOAD 一定而AC LINE 變化時, 其輸入電壓跟隨變化之動搖性(慣例則義≤1%).

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). DIGITAL VOLTAGE METER (DVM) / 數(shù)字式電壓表;

三. 測試條件:

四、測試方法:

(1). 依規(guī)格設(shè)定測試負載LOAD 條件.

(2). 調(diào)整輸入電壓AC LINE 和頻率FREQUENCY 值.

(3). 記載待測品輸入電壓值能否在規(guī)格內(nèi).

(4). Line reg.=(輸入電壓的*值(Vmax.)-輸入電壓的*小值(Vmin.))/Vrate volt.*100%.

五. 留意事項:

(1). 測試前先將待測品熱機, 待其輸入電壓動搖后再停止測試.

(2). 電壓調(diào)整率值是輸入負載不變,輸入電壓變化時計算的值.

6.負載調(diào)整率測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 在AC LINE 一定而OUTPUT LOAD 變化時, 其輸入電壓跟隨變化之動搖性(慣例則義≤±5%).

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). DIGITAL VOLTAGE METER (DVM) / 數(shù)字式電壓表;

三. 測試條件:

四、測試方法:

(1). 依規(guī)格設(shè)定測試輸入電壓AC LINE 和頻率FREQUENCY 值.

(2). 調(diào)整輸入負載LOAD 值

(3). 記載待測品輸入電壓值能否在規(guī)格內(nèi).

(4). Load reg.=(輸入電壓的*/小值(Vmax/min.)-輸入電壓的額外值(Vrate))/Vrate volt.*100%.

五. 留意事項:

(1). 測試前先將待測品熱機, 待其輸入電壓動搖后再停止測試;

(2). 負載調(diào)整率值是輸入電壓不變,輸入負載變化時計算的值.

7. 輸入緩慢變化測試

一、目的:

驗證當輸入電壓偏低情形發(fā)作時, 待測品需能自我維護, 且不能有損壞現(xiàn)象;

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

三. 測試條件:

(1). 依SPEC. 要求: 設(shè)定輸入電壓為90Vac 或180Vac 和輸入負載Max. load;

四、測試方法:

(1). 將待測品與輸入電源和電子負載銜接好, 且設(shè)定好輸入電壓和輸入負載;

(2). 逐漸調(diào)降輸入電壓, 每次3 Vac/每分鐘.

(3). 記載電壓值(包括輸入電壓和輸入電壓), 直到待測品自動當機為止.

(4). 設(shè)定好輸入電壓為0Vac,逐漸調(diào)升輸入電壓, 每次3 Vac/每分鐘,

直到待測品輸入電壓到達正慣例格為止,記載電壓啟動時輸入電壓和輸入電壓值.

五、留意事項:

(1). 待測品在正常操作狀況下不應(yīng)有任何不穩(wěn)舉措發(fā)作, 以及失效情形;

(2). 產(chǎn)品當機和啟動時的輸入電壓需小于輸入電壓范圍下限值.

8. 紋涉及噪聲測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 直流輸入電壓之紋波RIPPLE 及噪聲NOISE(規(guī)格定義慣例為≤輸入電壓的1%);

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3) OSCILLOSCOPE / 示波器;

(4) TEMP. CHAMBER / 溫控室;

三. 測試條件:

各種LINE 和LOAD 條件及溫度條件, 各種輸入電壓& 輸入負載(Min.-MAX. LOAD).

四、測試方法:

(1). 按測試回路接好各測試,設(shè)備,以及待測品,測試電源在各種LINE 和LOAD,及溫度條件之RIPPLE &NOISE(下圖為一典型輸入RIPPLE & NOISE A: RIPPLE+NOISE; B: RIPPLE; C: NOISE

五、留意事項:

(1). 測試前先將待測輸入并聯(lián)SPEC. 規(guī)則的濾波電容, (通常為10uF/47uF電解電容;或鉭電容及0.1uF陶瓷電容) 頻寬限制依SPEC. 而定(通常為20MHz).

(2). 應(yīng)防止示波器探頭自身攪擾所發(fā)生的雜訊.

9.上升時間測試

一、目的:

測試S.M.P.S. POWER ON 時,各組輸入從10% ~ 90% POINT 之上升時間(慣例則義為≤20mS).

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器

三. 測試條件:

四、測試方法:

(1). 依規(guī)格設(shè)定AC VOLTAGE, FREQUENCY AND LOAD .

(2). SCOPE 的CH1 接Vo, 并設(shè)為TRIGGER SOURCE, LEVEL 設(shè)定在Vo 的60% ~ 80% 較為妥當, TRIGGER SLOPE 設(shè)定在"+",

TIME/DIV 和VOLTS/DIV 則視輸入電壓狀況而定.

(3). 用CURSOR 中"TIME", 量測待測品各組輸入從電壓10% 至90% 之上升時間.

五. 留意事項:

測試前先將待測品處于冷機形狀,待BUCK Cap. 電荷放盡后停止測試.

10. 下降時間測試

一、目的:

測試S.M.P.S. POWER ON 時,各組輸入從90% ~ 10% POINT 之下降時間(慣例則義≥5mS);

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器

三. 測試條件:

四、測試方法:

(1). 依規(guī)格設(shè)定AC VOLTAGE, FREQUENCY AND LOAD.

(2). SCOPE 的CH1 接Vo, 并設(shè)為TRIGGER SOURCE, LEVEL 設(shè)定在Vo 的60% ~ 80% 較為妥當, TRIGGER SLOPE 設(shè)定在"-",TIME/DIV 和VOLTS/DIV 則視輸入電壓狀況而定;

(3). 用CURSOR 中"TIME", 量測待測品各組輸入從電壓90% 至10% 之下降時間.

五. 留意事項:

測試前先將待測品熱機, 待其輸入電壓動搖后再停止測試.

11. 開機延遲時間測試

一、目的:

測試S.M.P.S. POWER ON 時, 輸入電壓AC LINE 與輸入之時間差(慣例則義為≤3000mS).

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器

三. 測試條件:

四、測試方法:

(1). 測試時依規(guī)格設(shè)定AC LINE, FREQUENCY 和輸入負載(普通LOW LINE & MAX. LOAD時間*長).

(2). OSCILLOSCOPE 的CH1 接Vo 為TRIGGER SOURCE, CH2 接AC LINE.

(3). TRIGGER LEVEL 設(shè)定在Vo 的60% ~ 80% 間較為妥當, TRIGGER SLOPE 設(shè)定在"+",VOLTS/DIV 和TIME/DIV 則視實踐狀況而定.

(4). 用CURSOR 中"TIME", 量測AC ON 至Vo LOW LIMIT 之時間差.

五. 留意事項:

(1). 測試前先將待測品處于冷機形狀, 待BULK Cap. 電荷放盡后停止測試;

(2). 示波器(OSCILLOSCOPE) 需運用隔離變壓器.

12. 關(guān)機維持時間測試

一、目的:

測試S.M.P.S. POWER OFF 時, 輸入電壓AC LINE 與輸入OUTPUT 之時間差(慣例則義≥10mS/115Vac & ≥20mS/230Vac );

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器

三. 測試條件:

四、測試方法:

(1). 測試時依規(guī)格設(shè)定AC LINE, FREQUENCY 和輸入負載.

(2). OSCILLOSCOPE 的CH1 接Vo 為TRIGGER SOURCE, CH2 接ACLINE.

(3). TRIGGER LEVEL 設(shè)定在Vo 的60% ~ 80% 間較為妥當, TRIGGER SLOPE 設(shè)定在“-”, VOLTS/DIV 和TIME/DIV 則視實踐狀況而定.

(4). 用CURSOR 中"TIME", 量測AC ON 至Vo LOW LIMIT 之時間差.

五. 留意事項:

(1). 測試前先將待測品熱機, 待其輸入電壓動搖后再停止測試;

(2). 示波器(OSCILLOSCOPE) 需運用隔離變壓器.

13. 輸入過沖幅度測試

一、目的:

測試S.M.P.S. POWER ON 時, 輸入DC OUTPUT 過沖幅度變化量(慣例則義為≤10%).

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

三. 測試條件:

依SPEC. 所要求,輸入電壓范圍與輸入負載(Min. – Max. load).

四、測試方法:

(1). 測試時依規(guī)格設(shè)定AC LINE, FREQUENCY 和輸入負載.

(2). OSCILLOSCOPE 的CH1 接Vo 為TRIGGER SOURCE;

(3). TRIGGER LEVEL 設(shè)定在Vo 的60% ~ 80% 間較為妥當, TRIGGER SLOPE 設(shè)定在“+” 和“-”, VOLTS/DIV 和TIME/DIV 則視實踐狀況而定.

(4). 用CURSOR 中"VOLT", 量測待測品輸出過沖點與動搖值之關(guān)系.

(5). ON / OFF 各做十次, 過沖幅度%=△V / Vo *100%;

五、留意事項:

產(chǎn)品在CC與CR形式都需滿足規(guī)格要求.

14. 輸入暫態(tài)照應(yīng)測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 輸入負載快速變化時, 其輸入電壓跟隨變化之動搖性(規(guī)格定義電壓*與*小值不超越輸入規(guī)格的±10%).

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

三. 測試條件:

依SPEC.所規(guī)則: 輸入電壓AC LINE, 變化的負載LOAD, 頻率及升降斜率SR/F 值.

四、測試方法:

(1). 測試時設(shè)定好待測品輸入電壓AC LINE 和頻率FREQUENCY.

(2). 測試時設(shè)定好待測品輸入條件: 變化負載和變化頻率及升降斜率.

(3). OSCILLOSCOPE CH1 接到OUTPUT 偵測點, 量其電壓之變化.

(4). CH2 接CURRENT PROBE 測試輸入電流, 作為OSCILLOSCOPE 之TRIGGER SOURCE.

(5). TRIGGER MODE設(shè)定為"AUTO.".

五、留意事項:

(1). 留意運用CURRENT PROBE 時,每改動VOLTS/DIV 刻度PROBE 皆須歸零ZERO,

(2). 須經(jīng)常對CURRENT PROBE 停止消磁DEGAUSS 和歸零ZERO.

15. 過流維護測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 輸入電流過高時能否維護, 維護點能否在規(guī)格要求內(nèi), 及能否會對S.M.P.S. 形成損傷(慣例則義過流點為輸入額外負

載的1.2-2.5倍/ CV形式產(chǎn)品初外).

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

三. 測試條件:

依SPEC. 所規(guī)則: 輸入電壓AC LINE 和電子負載.

四、測試方法:

(1). 將待測組輸入負載設(shè)在MAX. LOAD.

(2). 以一定的斜率(通常為1.0A/S) 遞增, 加大輸入電流直至電源維護, 當維護后, 將所加大之電流值遞減, 視其輸入能否會自動RECOVERY.

(3). OSCILLOSCOPE CH2 接上CURRENT PROBE, 以PROBE 檢測輸入電流.

(4). CH1 則接到待測輸入電壓, 作為OSCILLOSCOPE 之TRIGGER SOURCE.

(5). TRIGGER SLOPE 設(shè)定為"-", TRIGGER MODE 設(shè)定為"AUTO", TIME/DIV 視狀況而定.

五、留意事項:

(1). 留意運用CURRENT PROBE 時,每改動VOLTS/DIV 刻度PROBE 皆須歸零ZERO,

(2). 須經(jīng)常對CURRENT PROBE 停止消磁DEGAUSS 和歸零ZERO.

(3). 產(chǎn)品不能有平安風險發(fā)生.

16. 短路維護測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 輸入端在開機前或在任務(wù)中短路時, 產(chǎn)品能否有維護功用.

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

(4). 低阻抗短路夾

三. 測試條件:

依SPEC. 所規(guī)則: 輸入電壓AC LINE 和負載LOAD 值和低阻抗短路夾.

四、測試方法:

(1). 依規(guī)格設(shè)定測試條件: 輸入電壓AC LINE 和負載LOAD 值(普通為MAX.LOAD).

(2). 各組輸入相互短路或?qū)Φ囟搪? 偵測輸入特性.

(3). 開機后短路TURN ON THEN SHORT & 短路后開機SHORT THEN TURN ON 各十次.

五、留意事項:

(1).當SHORT CIRCUIT 掃除之后, 檢測待測品能否自動恢復或需重新啟動(視SPEC 要求),并測試產(chǎn)品能否正常或有無零件損壞(產(chǎn)品要求應(yīng)正常).

(2). 產(chǎn)品不能有平安風險發(fā)生.

17. 過壓維護測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 輸入電壓過高時能否維護, 維護點能否在規(guī)格要求內(nèi), 及能否會對S.M.P.S. 形成損傷(慣例則義:Vout<12V,過壓維護點為1.8倍輸入電壓; Vout≥12V,.過壓維護點為1.5倍輸入電壓).

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

(4). DC SOURCE / 直流電源;

三. 測試條件:

依SPEC. 所規(guī)則: 輸入電壓AC LINE 和負載LOAD 值.

四、測試方法:

(1). 測試方式一: 拿掉待測品回授FEEDBACK, 找出過壓維護OVP 點,

(2). 測試方式二: 外加一可變電壓于操作待測品的輸入, 緩慢增大電壓值, 找出過壓維護OVP 點,

(3). OSCILLOSCOPE CH1 接到OVP 偵測點, 測量其電壓之變化.

(4). CH2 則接到其它一組輸入電壓, 作為OSCILLOSCOPE 之TRIGGER SOURCE.

(5). TRIGGER SLOPE 設(shè)定為"-", TRIGGER MODE 設(shè)定為"NORMAL".

五、留意事項:

產(chǎn)品不能有平安風險發(fā)生.

18. 重輕載變化測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 的輸入負載在重輕載切換時對輸入電壓的影響(規(guī)格定義電壓*與*小值不超越輸入規(guī)格的±10%).

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

三. 測試條件:

依SPEC. 所規(guī)則: 輸入電壓AC LINE 和負載LOAD(MIN. AND MAX.) 值.

四、測試方法:

(1). 依規(guī)格設(shè)定AC VOLTAGE, FREQUENCY AND LOAD (MAX. LOAD 和MIN. LOAD).

(2). SCOPE 的CH1 接Vo, 并設(shè)為TRIGGER SOURCE, LEVEL 設(shè)定在Vo 的90% ~ 100% 較為妥當, TRIGGER SLOPE 設(shè)定在"+",VOLTS/DIV 則視輸入電壓狀況而定.

(3). TIME/DIV 設(shè)定為1S/DIV 或2S/DIV,為滾動形狀.

(4). 在輸入電壓動搖時,變化輸入負載(*/*小).

(5). 在設(shè)定電壓下測試輸入電壓的*和*小值.

五、留意事項:

無

19. 輸入電壓變化測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 的輸入電壓在規(guī)格要求內(nèi)變化時,能否會對S.M.P.S. 形成損傷或輸入不動搖.

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

三. 測試條件:

依SPEC. 所規(guī)則: 輸入電壓AC LINE 和負載LOAD 值.

四、測試方法:

(1). 將待測輸入負載設(shè)在MAX. LOAD 和MIN. LOAD.

(2). TRIGGER SLOPE 設(shè)定為"+", TRIGGER MODE 設(shè)定為"AUTO", TIME/DIV 視狀況而定1S/DIV 或2S/DIV.

(3). 變化輸入電壓,如:90Vac-180Vac;115Vac-230Vac;132Vac-264Vac;0-90Vac…… 0-264Vac.

(4). 測試輸入電壓在輸入電壓變化時的*值和*小值.

五、留意事項:

輸入電壓變化的范圍應(yīng)在規(guī)格電壓要求內(nèi).

20.電源開關(guān)循環(huán)測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 能否能接受延續(xù)開關(guān)操作下的沖擊.

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

(4) POWER ON/OFF TESTER / 電源開關(guān)測試;

三. 測試條件:

(1). 輸入電壓: 115Vac/230Vac 輸入負載: 滿載.

(2). ON/OFF時間: ON 5秒/ OFF 5秒ON/OFF CYCLE：AT LEAST 5000 CYCLE.

(3). 環(huán)境溫度: 室溫.

四、測試方法:

(1). 銜接待測品到電源開/關(guān)測試及電源. (115Vac和230Vac &滿載, 或依客戶規(guī)格執(zhí)行)

(2). S.M.P.S OFF 5秒及ON 5秒為一周期,總共測試周期: 5000 CYCLES.

(3). 測試進程中每完成1000周期時,記載產(chǎn)品的輸入功率和輸入電壓.

(4). 待實驗完畢后,確定待測品在實驗前后電氣功用能否有差異.

五、留意事項:

測試進程中或測試完成階段, 待測品都需能正常操作且不應(yīng)有任何功用降低狀況發(fā)作.

21.元件溫升測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 在規(guī)格操作環(huán)境, 電壓, 頻率和負載條件時, 元件的溫升狀況.

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). HYBRID RECORDER / 混合記載儀(DR130);

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

三. 測試條件:

依SPEC. 規(guī)則: 輸入電壓AC LINE, 頻率FREQUENCY, 輸入負載LOAD 及環(huán)境溫度.

四、測試方法:

(1). 依線路狀況先確定溫升較高的元件, 后用溫升線粘貼所確定的元件.

(2). 依規(guī)格設(shè)定好測試條件(AC LINE AND OUTPUT LOAD) 再開機, 并記載輸入功率和輸入電壓.

(3). 用混合記載儀HYBRID RECORDER 記載元件的溫升曲線, 待元件溫升完全動搖后打印結(jié)果,并記載輸入功率和輸入電壓.

五、留意事項:

(1). 溫升線耦合點應(yīng)盡量貼著元件測試點, 溫升線走勢應(yīng)盡量防止影響S.M.P.S 元件的散熱.

(2). 測試的樣品應(yīng)模擬其實踐的或在系統(tǒng)中的擺放形狀.

(3). 針關(guān)于無風扇( NO FAN)的產(chǎn)品, 測試時應(yīng)盡量防止外界風活動對它的影響.

22. 高溫操作測試

一、目的:

測試高溫環(huán)境對S.M.P.S. 操作進程中的結(jié)構(gòu), 元件及零件電氣的影響, 用以考量S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計及零件選用的合理性.

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

(5). HI-POT TESTER / 高壓測試

三. 測試條件:

(1). 依SPEC.要求: 輸入條件(RATED VOLTAGE), 輸入負載(FULL LOAD) 和操作溫度OPERATION TEMP (通常為溫度: 40℃);

(2). 實驗時間: 4Hrs.

四、測試方法:

(1). 將待測品置于溫控室內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定好輸入輸入測試條件, 然后開機;

(2). 依規(guī)格設(shè)定好溫控室的溫度和濕度,然后啟動溫控室;

(3). 定時記載待測品輸入功率和輸入電壓,以及待測品能否有異常;

(4). 做完測試后回溫到室溫,再將待測品從溫控室中移出, 在常溫環(huán)境下至少恢復4小時.

五、留意事項:

(1). 產(chǎn)品實驗時期與實驗后,產(chǎn)品功用不能出現(xiàn)升級與退步現(xiàn)象.

(2). 實驗后產(chǎn)品的介電強度與絕緣電阻測試需契合規(guī)格書要求.

23. 高溫高濕貯存測試

一、目的:

測試高溫高濕貯存環(huán)境對S.M.P.S. 的結(jié)構(gòu), 元件及零件電氣的影響, 以考量S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計及零件選用的合理性.

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

(5). HI-POT TESTER / 高壓測試

三. 測試條件:

貯存高溫高濕條件: 通常為溫度70±2℃, 濕度90-95% 實驗時間24Hrs(非操作條件).

四、測試方法:

(1). 實驗前記載待測品輸入功率, 輸入電壓及HI-POT 狀況;

(2). 將確認后的待測品置入恒溫恒濕機內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定其溫度和濕度,然后啟動溫控室;

(3). 實驗24Hrs, 實驗完畢后在空氣中放置至少4Hrs,再確認待測品外觀, 結(jié)構(gòu)及電氣功用能否有異常.

五、留意事項:

(1). 產(chǎn)品實驗時期與實驗后,產(chǎn)品功用不能出現(xiàn)升級與退步現(xiàn)象.

(2). 實驗后產(chǎn)品的介電強度與絕緣電阻測試需契合規(guī)格書要求.

24. 高溫操作測試

一、目的:

測試高溫環(huán)境對S.M.P.S. 操作進程中的結(jié)構(gòu), 元件及零件電氣的影響, 用以考量S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計及零件選用的合理性.

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

(5). HI-POT TESTER / 高壓測試;

三. 測試條件:

(1). 依SPEC.要求: 輸入條件(RATED VOLTAGE), 輸入負載(FULL LOAD) 和操作溫度(OPERATION TEMP.),通常溫度為:(0℃).

(2). 實驗時間: 4Hrs.

四、測試方法:

(1). 將待測品置于溫控室內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定好輸入輸入測試條件, 然后開機.

(2). 依規(guī)格設(shè)定好溫控室的溫度,然后啟動溫控室.

(3). 定時記載待測品輸入功率和輸入電壓,以及待測品能否有異常;

(4). 做完測試后將待測品從溫控室中移出, 在常溫環(huán)境下恢復至少4小時,然后確認其外觀和電氣功用有無異常.

五、留意事項:

(1). 產(chǎn)品實驗時期與實驗后,產(chǎn)品功用不能出現(xiàn)升級與退步現(xiàn)象.

(2). 實驗后產(chǎn)品的介電強度與絕緣電阻測試需契合規(guī)格書要求.

25.高溫貯存測試

一、目的:

測試高溫貯存環(huán)境對S.M.P.S. 的結(jié)構(gòu), 元件及零件電氣的影響, 用以考量S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計及零件選用的合理性.

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

(5). HI-POT TESTER / 高壓測試;

三. 測試條件:

貯存高溫條件: 通常為溫度-30℃, 實驗時間24Hrs(非操作條件).

四、測試方法:

(1). 實驗前記載待測品輸入功率, 輸入電壓及HI-POT 狀況.

(2). 將確認后的待測品置入恒溫恒濕機內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定其溫度,然后啟動溫控室.

(3). 實驗24Hrs, 實驗完畢后在空氣中放置至少4Hrs, 再將待測品做HI-POT 測試, 記載測試結(jié)果, 之后確認待測品的外觀, 結(jié)構(gòu)及電氣功用能否有異常.

五、留意事項:

(1). 產(chǎn)品實驗時期與實驗后,產(chǎn)品功用不能出現(xiàn)升級與退步現(xiàn)象.

(2). 實驗后產(chǎn)品的介電強度與絕緣電阻測試需契合規(guī)格書要求.

26. 高溫啟動測試

一、目的:

測試高溫貯存環(huán)境對S.M.P.S. 的零件電氣的影響, 用以考量S.M.P.S. 電氣及零件選用的合理性.

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

三. 測試條件:

貯存高溫條件: 通常為操作溫度0℃ 條件下降低到-10 ±2℃, 貯存時間至少4Hrs.

四、測試方法:

(1). 實驗前記載待測品輸入功率, 輸入電壓及HI-POT 狀況.

(2). 將確認后的待測品置入恒溫恒濕機內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定其溫度,然后啟動溫控室.

(3). 實驗溫度貯存至少4Hrs, 然后區(qū)分在115Vac/60Hz & 230Vac/50Hz和輸入*負載條件下開關(guān)機各20 次, 確認待測品電氣功用能否正常.

五、留意事項:

(1). 在產(chǎn)品功用測試時期或測試之后,產(chǎn)品功用不能出現(xiàn)升級與退步現(xiàn)象.

(2). 設(shè)定的環(huán)境溫度為操作高溫的溫度再降-10度.

27. 溫度循環(huán)測試

一、目的:

測試針對S.M.P.S. 一切組成零件的減速性測試, 用來顯顯露在實踐操作中所能夠出現(xiàn)的效果.

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

(5). HI-POT TESTER / 高壓測試;

三. 測試條件:

操作溫度條件: 通常為高溫度-40 ℃ 、25℃、33℃和高溫度66 ℃(濕度: 50-90%), 實驗至少24個循環(huán).

四、測試方法:

(1). 實驗前記載待測品輸入功率, 輸入電壓及HI-POT 狀況.

(2). 將確認后的待測品置入恒溫恒濕機內(nèi), 以無包裝,非操作形狀下.

(3). 設(shè)定溫度順序為66±2 ℃堅持1小時, 33±2 ℃和濕度90±2%堅持1小時, -40±2 ℃堅持1小時, 25±2 ℃和濕度50±2%堅持30分鐘,為一個循環(huán).

(4). 啟動恒溫恒濕機, 然后記載其溫度與時間的圖形, 監(jiān)視系統(tǒng)所記載的進程,

(5). 實驗完成后, 溫度回到室溫再將待測物從恒溫恒濕機中移出, 放置樣品在空氣中4Hr 再確認外觀, 結(jié)構(gòu)及電氣功用能否有異常.

五、留意事項:

(1). 經(jīng)過冷熱沖擊實驗后產(chǎn)品的功用與外觀不能出現(xiàn)升級與退步現(xiàn)象.

(2). 經(jīng)過冷熱沖擊實驗后產(chǎn)品的介電強度與絕緣電阻應(yīng)契合規(guī)格書要求.

28. 冷熱沖擊測試

一、目的:

測試高, 高溫度沖擊對S.M.P.S. 的影響,用來揭露各組成元件的弱點.

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

(5). HI-POT TESTER / 高壓測試;

三. 測試條件:

(1). 依SPEC. 要求: 貯存*(70℃), 高溫度(-30℃), 測試共10 個循環(huán), 上下溫轉(zhuǎn)換時間為<2min;

(2). 依客戶所提供的實驗條件.

四、測試方法:

(1). 在溫控室內(nèi)待測品由常溫25 ℃向高溫通常為-30 ℃轉(zhuǎn)變,并高溫烘烤1Hr.

(2). 溫控室由高溫-30 ℃向高溫通常為70 ℃轉(zhuǎn)變,轉(zhuǎn)變時間為2min., 并高溫烘烤1Hr.

(3). 在高溫70 ℃ 和高溫-30 ℃ 之間循環(huán)10 個周期后, 溫度回到常溫將S.M.P.S. 取出(至少恢復4小時).

(4). 確認待測品的標簽、外殼、耐壓和電氣功用有無與測試前的差異.

五、留意事項:

(1). 經(jīng)過冷熱沖擊實驗后產(chǎn)品的功用與外觀不能出現(xiàn)升級與退步現(xiàn)象.

(2). 經(jīng)過冷熱沖擊實驗后產(chǎn)品的介電強度與絕緣電阻應(yīng)契合規(guī)格書要求.

(3). 產(chǎn)品為非操作條件.

28. 冷熱沖擊測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 在規(guī)格耐壓和時間條件下, 能否發(fā)生電弧ARCING, 其CUT OFF CURRENT 能否滿足SPEC. 要求, 及能否會對S.M.P.S.形成損傷.

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). HI-POT TESTER / 高壓測試;

三. 測試條件:

依SPEC. 要求: 耐壓值(4242Vdc / 3000Vac)、操作時間(1 minute)和CUT OFF CURRENT(3.5mA) 值;

四、測試方法:

(1). 依SPEC. 設(shè)定好耐壓WITHSTANDING VOLTAGE, 操作時間TIME, CUT OFF CURRENT 值.

(2). 將待測品與耐壓測試依要求銜接, 停止耐壓測試, 觀察能否有發(fā)生電弧ARCING, 及漏電流CUT OFF CURRENT 能否過大.

(3). 耐壓測試后, 確認待測品輸入功率與輸入電壓能否正常.

五、留意事項:

(1). 測試前應(yīng)先設(shè)定好耐壓測試的測試條件, 待測品的輸入與輸入?yún)^(qū)分應(yīng)與測試接觸良好.

(2). 耐壓的規(guī)格值設(shè)定參考安規(guī)要求.

30. 跌落測試

一、目的:

了解S.M.P.S. 由一定高度, 不同面停止跌落DROP, 其結(jié)構(gòu), 電氣等特性的變化狀況.

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). HI-POT TESTER / 高壓測試;

三. 測試條件:

依SPEC. 要求: 規(guī)則的跌落高度、跌落次數(shù)和剛硬的水平面.

四、測試方法:

(1). 一切待測品需先經(jīng)過電氣上的測試及目視反省，以保證測試前沒任何可見的損壞存在.

(2). 確定六個面(小-大)順序依次停止跌落.

(3). 使待測品由規(guī)則的高度及項(2) 所確定的測試點各停止一次跌落, 每跌落一次均須對其電氣及絕緣等停止確認,記載正常或異常結(jié)果.

31.絕緣阻抗測試

一、目的:

測量待測物帶電部件與輸入電路之間和帶電部件與膠殼之間的絕緣阻抗值.

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). HI-POT TESTER / 高壓測試;

三. 測試條件:

(1). 依SPEC. 要求: 施加500V直流電壓后停止測試的絕緣阻抗值要高10MOhm(慣例則義).

四、測試方法:

(1). 確認好電氣功用后, 在絕緣阻抗測試中設(shè)定好施加的電壓(500Vdc)和測試的時間(1 Minute).

(2). 將待測物輸入端和輸入端區(qū)分短路銜接, 然后區(qū)分銜接測試對應(yīng)端停止測試.

(3). 再將待測物輸入端和外殼之間區(qū)分與測試對應(yīng)端銜接停止測試.

(4). 確認待測物的測試絕緣阻抗值能否高于SPEC.要求值10MOhm.

五、留意事項:

(1). 阻抗要求值依安規(guī)規(guī)范要求定義.

32. 額外電壓輸入電流測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 在AC LINE 及OUTPUT VOLT. 一定時, 其輸入電流值.

二. 運用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負載;

三. 測試條件:

四、測試方法:

(1). 固定輸入電壓與頻率,依條件設(shè)定CV 形式下的輸入電壓.

(2). 開機后待輸入動搖時記載輸入電流值.

(3). 切換輸入電壓與頻率,記載不同輸入電壓時的輸入電流值.

(4). 在輸入電壓值不同條件下區(qū)分記載輸入電流值.

五、留意事項:

記載輸入電流值前待測品電流值需動搖.

2022年12月12日至2023年1月9日，歐盟對RoHS附件IV中新增毛細管流變儀的熔體壓力傳感器中的汞豁免草案展開為期周圍的群眾評議，在此時期，利益相關(guān)者均可提交反應(yīng)意見。豁免草案詳細內(nèi)容如下：

在指令2011/65/EU的附件IV中，擬添加以下條目：

歐盟RoHS限制物質(zhì)豁免包括附件III和附件IV，其中附件III豁免條款適用于1-11類電子電氣產(chǎn)品，而附件IV只適用于第8、9類電子電氣產(chǎn)品，此次更新主要針對第9類產(chǎn)品，因此第9類產(chǎn)品的相關(guān)制造商需求著重關(guān)注該豁免的*新靜態(tài)。1-11類電子電氣產(chǎn)品詳細類別如下：

原文鏈接：http://ec.europa.eu/info/law/better-regulation/have-your-say/initiatives/13596-Electrical-equipment-mercury-in-melt-pressure-transducers-for-specific-capillary-rheometers-RoHS-exemption-_en

關(guān)于虹彩檢測

深圳市虹彩檢測技術(shù)有限公司（WALTEK HCT），是沃特檢驗集團成員。公司創(chuàng)立于2009年，總部位于深圳東部，是國際頗具知名度、影響力和生長力的綜合性第三方機構(gòu)。

目前在佛山、東莞及惠州等地設(shè)立多家辦事處及分公司。作為專業(yè)的檢測機構(gòu)及認證咨詢公司，虹彩檢測具有中國合格評定國度認可委員會CNAS及國度計量認證CMA資質(zhì)，并取得了美國CPSC及UL、加拿大CSA、德國TUV、VDE、日本PSE-MARK、英國BSI、BABT、澳洲C-TICK、挪威NEMKO、丹麥DEMKO、瑞典SEMKO、芬蘭FIMKO、中國CCC，歐盟市場CE與國際驗證體的CB等國際機構(gòu)的認可資質(zhì)。檢測報告失掉全球多個國度及地域認可，具有國際、國際公信力。

多年來，仰仗精深的行業(yè)檢測技術(shù)、先進的檢測設(shè)備、精準化的管理理念，虹彩檢測一直堅持“行為公正，方法迷信，數(shù)據(jù)準確，效勞高效”的質(zhì)量方針，效勞范圍觸及工業(yè)及消費品、環(huán)境檢測、公共場所衛(wèi)生、放射衛(wèi)生、職業(yè)衛(wèi)生、EMC電磁兼容與安規(guī)等，為客戶提供方案制定、現(xiàn)場勘查、采樣、剖析、報告、檢驗、檢測、認證及技術(shù)效勞、評價、技術(shù)咨詢與培訓等多元化、一站式效勞及優(yōu)質(zhì)的片面處置方案。

微信群眾號、視頻號

HCT虹彩檢測

新浪微博

@虹彩檢測

聯(lián)絡(luò)地址：深圳市龍崗區(qū)龍崗街道重生社區(qū)萊茵路30號天基工業(yè)園B棟